특허보유현황
나노섬유 검사 및 보수 장치 및 그 방법
출원인
한국기계연구원
등록상태
등록
출원번호
1020080072360
출원일
2008-07-24
공개번호
1020100011231
공개일
2010-02-03
등록번호
1010563450000
등록일
2011-08-05
IPC 분류
D06H 3/08|B65H 16/02
대표도면
요약
본 발명은 나노섬유가 적층되어 만들어진 나노섬유 멤브레인의 결함을 검출하는 결함 검출부와, 상기 결함 검출부에서 검출한 결함을 전기 방사를 통하여 보수하는 보수부를 포함하는 나노섬유 검사 및 보수 장치를 제공한다. 또한, 본 발명은, 나노섬유 멤브레인에 발생한 결함을 검출하는 결함 검출 단계와, 상기 결함 검출 단계에서 검출된 결함을 보수부가 전기 방사를 통하여 보수하는 보수 단계를 포함하는 나노섬유 검사 및 보수 방법을 제공한다. 나노섬유, 전기방사
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