특허보유현황
※ 본 공고는 설정등록된 특허(특허법 제87조)를 기준으로 작성되었으며, 최신 특허출원은 설정등록 이후 순차적으로 반영됩니다.
측정 시스템
출원인
한국기계연구원
등록상태
등록
출원번호
1020100120206
출원일
2010-11-30
등록번호
1010556390000
등록일
2011-08-03
IPC 분류
G01B 11/02|G01N 21/45|G01V 8/22|G01M 11/02
대표도면
요약
본 발명은 선형자와 같은 측정 시스템에 관한 것으로, 본 발명의 목적은 광디스크 픽업 장치에서 사용되는 트래킹 방법을 적용하여 장치 구성에 드는 비용이 상대적으로 저렴하면서도 높은 측정 정밀도를 얻을 수 있는 측정 시스템을 제공함에 있다. 본 발명의 측정 시스템은, 일정 간격으로 교번 배치되는 요부 및 철부가 형성된 눈금부(110A)를 포함하여 이루어지는 기준자(110); 상기 기준자(110)로 입사광을 조사시키고, 상기 기준자(110)로부터 반사되어 나오는 반사광을 집속 출력하는 광 집속 수단(120); 상기 광 집속 수단(120)에 의하여 상기 기준자(110)로 입사광이 조사되도록 상기 광 집속 수단(120)으로 광을 입사시키는 레이저 광원(131), 상기 광 집속 수단(120)으로부터 집속 출력된 반사광을 입사받아 측정하는 복수 개의 포토 다이오드(132), 상기 포토 다이오드(132)에서 측정된 적어도 한 쌍의 광신호를 사용하여 위치 정보를 산출하는 계산부(133)를 포함하여 이루어지는 광 측정 수단(130); 을 포함하여 이루어지며, 상기 기준자(110)와 상기 광 집속 수단(120) 간의 상대적인 위치 이동 시, 상기 광 측정 수단(130)은 트래킹 방법을 적용하되, 상기 포토 다이오드(132)에서는 상기 적어도 한 쌍의 광신호를 각각 측정하고, 상기 각각 측정된 적어도 한 쌍의 광신호...(이하생략)
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