특허보유현황
대형 환형 시편의 진원도 측정장치 및 방법
출원인
한국기계연구원
등록상태
등록
출원번호
1020140126572
출원일
2014-09-23
등록번호
1014867320000
등록일
2015-01-21
IPC 분류
G01B 7/34|G01B 7/28|G01B 21/30
대표도면
요약
대형 환형 시편의 진원도 측정장치 및 방법이 개시되어 있다. 이 중, 대형 환형 시편의 진원도 측정장치는 본체; 상기 본체의 선단에 좌우 이동이 가능하게 설치되며, 소정의 간격을 갖도록 나란하게 설치된 채, 상기 턴테이블의 회전각도에 따른 변위를 측정하기 위한 제1 및 제2 변위센서; 상기 제1 및 제2 변위센서를 좌측 또는 우측으로 직선 조작하기 위한 조절부재; 상기 본체에 설치된 채 상기 제1 변위센서 및 제2 변위센서로부터 각각 출력되는 센싱신호의 시차에 따라 두 변위센서 간의 간격 값을 분해능으로 측정하는 리니어 스케일; 및 상기 턴테이블의 반경방향 회전운동 오차값과 환형 시편의 진원도 오차값을 연산하여 상기 환형시편의 진원도를 산출하는 연산부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
전문보기
기술이전 상담신청