특허보유현황
나노 입자 모니터링 장치 및 방법
출원인
한국기계연구원
등록상태
등록
출원번호
1020150101255
출원일
2015-07-16
등록번호
1016227790000
등록일
2016-05-13
IPC 분류
G01N 15/02|G01N 27/42|G01N 27/30
대표도면
요약
나노 입자의 농도가 낮은 상황에서도 나노 입자의 형상을 판별하고 그 농도를 측정할 수 있는 나노 입자 모니터링 장치 및 방법이 개시된다. 본 발명의 일 양상에 따른 나노 입자 모니터링 장치는 작업 전극, 상대 전극, 기준 전극으로 이루어진 3전극을 이용하여 나노 입자를 모니터링하는 장치로서, 3전극이 삽입 설치되는 전해조, 작업 전극 및 상대 전극에 전위를 인가하는 전압 발생기, 작업 전극과 상대 전극에 흐르는 전류를 측정하는 전류계, 피크 전류가 발생한 전위로 나노 입자의 형상을 판단하는 입자 형상 판단부, 사전에 실험을 통해 얻어진 관계식에 근거하여 피크 전류를 가지고 나노 입자의 형상별 농도를 산출하는 농도 산출부를 포함한다.
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