특허보유현황
3차원 형상 계측용 구조광의 국소 영역별 패턴 광원 조사 시스템 및 방법
출원인
한국기계연구원|주식회사 피지오닉스
등록상태
등록
출원번호
1020150153680
출원일
2015-11-03
등록번호
1016241200000
등록일
2016-05-19
IPC 분류
G01B 11/25
대표도면
요약
본 발명은 3차원 형상 계측용 구조광의 국소 영역별 패턴 광원 조사 방법 및 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 반사율이 다양하게 존재하면서 정밀한 3차원 촬영을 요구하는 분야에서 별도의 추가 장치없이 카메라와 빔 프로젝터 각각 한 대씩만을 이용해 3차원 영상으로 복원할 수 있는 3차원 형상 계측용 구조광의 국소 영역별 패턴 광원 조사 시스템 및 방법에 관한 것이다.
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