특허보유현황
공간 좌표 측정 시스템 및 이를 이용한 공간 좌표 측정 방법
출원인
한국기계연구원
등록상태
등록
출원번호
1020160153349
출원일
2016-11-17
공개번호
1020180055469
공개일
2018-05-25
등록번호
1019113250000
등록일
2018-10-18
IPC 분류
G01S 17/50|H01S 3/094|H01S 3/00
대표도면
요약
공간 좌표 측정 시스템이 제공된다. 이 공간 좌표 측정 시스템은 측정 대상을 추적하여 측정 대상에 대한 제 1 공간 좌표를 도출하는 참조 레이저 추적기 및 참조 레이저 추적기에서 도출된 측정 대상에 대한 제 1 공간 좌표를 이용하여 측정 대상을 추적하여 제 1 공간 좌표보다 분해능이 높은 측정 대상에 대한 제 2 공간 좌표를 도출하는 3개의 레이저 추적기들을 포함한다. 3개의 레이저 추적기들은 다변측량법을 이용하여 측정 대상의 제 2 공간 좌표를 도출한다.
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