특허보유현황
광산란을 이용한 입자측정장치
출원인
(주)디엑스지|한국기계연구원
등록상태
등록
출원번호
1020170086945
출원일
2017-07-10
등록번호
1018010870000
등록일
2017-11-20
IPC 분류
G01N 15/02|G01N 21/53|G01N 21/94
대표도면
요약
본 발명은 광산란을 이용한 입자측정장치에 관한 것으로, 입자가 분산되어 있는 측정 영역에서 미약한 산란광을 큰 입체각으로 집광시켜 원형의 작은 영역에 균일하게 집중될 수 있도록 하기 위한 것이다. 이를 위하여 본 발명은 챔버의 외측에 요홈을 형성하거나 챔버(10)의 내측을 통과하는 통로를 형성하여 이 공간으로 입자가 분산된 유체가 통과할 수 있는 측정영역을 구비하고 측정영역에 광선을 조사하여 입자에 의한 산란광을 측정하고 측정된 산란광 신호를 입자의 농도로 변환하여 입자의 농도를 측정하는 장치에 있어서, 측정영역에 광선을 조사하는 광원, 측정영역을 기준으로 광원의 반대쪽에 광선의 조사 방향을 마주보도록 설치되어 산란광을 굴절 및 집광시키는 집광렌즈, 광원 반대쪽의 집광렌즈 정후방에 집광렌즈와 이격되어 경사지게 설치되어 집광렌즈에 의해 굴절된 산란광을 반사시키고 광원에서 조사된 광선을 통과시키는 구멍을 가진 평면거울, 평면거울에서 반사된 산란광이 집중되는 위치에 설치되어 입자에 의한 산란광 신호를 측정하는 광감지장치를 포함하여, 낮은 농도의 입자 측정이 가능하게 한다.
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