특허보유현황
스펙트럼 측정 장치 및 방법
출원인
한국기계연구원|한국표준과학연구원
등록상태
등록
출원번호
1020170170575
출원일
2017-12-12
공개번호
1020190070087
공개일
2019-06-20
등록번호
1020093990000
등록일
2019-08-05
IPC 분류
G01J 3/02|G01N 21/25|G01J 1/28
대표도면
요약
본 발명은 스펙트럼 측정 장치 및 방법에 관한 것이다. 본 발명의 목적은 다양한 대상 특성 및 측정 환경에 제한받지 않고 스펙트럼 측정을 실현할 수 있도록, 다양한 형태의 대상물의 용이 배치 및 측정이 가능한 개선된 구조를 가지는 스펙트럼 측정 장치를 제공함에 있다. 본 발명의 다른 목적은, 실무 현장에서 특정 파장 범위에 대한 스캐닝이 반복적으로 이루어지는 경우가 많다는 점에 착안하여, 광원 구조를 종래에 비해 보다 단순화함으로써 장치의 소형화 및 저가화를 실현할 수 있는 스펙트럼 측정 장치를 제공함에 있다. 더불어 본 발명의 다른 목적은, 상술한 바와 같이 개선된 구조를 가지는 스펙트럼 측정 장치를 이용하여, 대상물의 스펙트럼 측정을 더욱 효과적으로 수행할 수 있도록 하는 스펙트럼 측정 방법을 제공함에 있다.
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