특허보유현황
고속 온도제어가 가능한 고속 분자진단장치 및 이를 이용한 고속 분자진단방법
출원인
한국기계연구원
등록상태
등록
출원번호
1020200188981
출원일
2020-12-31
공개번호
1020220096494
공개일
2022-07-07
등록번호
1025810630000
등록일
2023-09-18
IPC 분류
B01L 7/00
대표도면
요약
고속 온도제어가 가능한 고속 분자진단장치 및 이를 이용한 고속 분자진단방법에서, 상기 고속 분자진단장치는 카트리지부, 및 상기 카트리지부를 냉각 또는 가열하는 온도제어블록을 포함하고, 상기 카트리지부는 카트리지 블록 및 이송블록을 포함한다. 상기 카트리지 블록은 복수의 전처리 홀들이 형성되는 블록부, 및 상기 블록부로부터 연장되며 수납공간을 형성하고 온도측정유닛이 고정되는 연장 플레이트를 포함한다. 상기 이송블록은 상기 전처리 홀들을 따라 시료에 대한 전처리를 수행하고, 상기 수납공간 상에 위치한다. 이 경우, 상기 이송블록은 상기 연장 플레이트와 고정된 상태에서, 상기 온도측정유닛과 함께 상기 온도제어블록에서 냉각 또는 가열된다.
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