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KIMM 최우수연구상

Award for
Best Research
2010년도 최우수 연구상

이학주 이학주

기술개발 내용 및 특징

10 ㎚급 나노측정 원천기술 개발 및 국제표준 제안

    ● 10 ㎚급 나노측정 원천기술 개발 및 국제표준 제안
    - 나노 임프린트 공정과 관련된 10 ㎚급 측정 원천기술 확보
    - 나노스케일 패턴의 형상 측정 기술 개발
    - 공정용 소재의 기계적 물성 측정기술 개발
    - 나노 소재의 복합물리 측정 기술 개발
    - 국제표준 제안으로 원천기술의 선취권을 얻기 위한 발판 마련

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